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CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。 CMI900无损测厚仪常用于以下几种情况: 金属镀层厚度测量,例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au;Sn等 合金(两样金属元素)镀层厚度测量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(无电浸镍)在Fe** 合金(三檬金属元素)镀层厚度测量, 例如: AuCuCd在Ni** 双镀层厚度测量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黄铜** 双镀层厚度测量(其中一层是合金层), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青铜** 三镀层, 例如: Cr/Ni/Cu在塑胶或在铁上 PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常见应用 CMI900 提供800多种预设应用参数/方法 **的长期稳定性: 自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果 简单**的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正 坚固**的设计 我司是牛津仪器总代理商,从事与仪器相关服务已经十多年,拥有**的技术工程师以及良好的销售团队,可为你解决涵盖CMI900仪器、CMI700等牛津仪器相关问题,也可以提供较详细的CMI900、CMI700相关技术资料。